「材料評価のためのX線光電子分光法(XPS)の基礎と応用」
ご好評のうちに終了しました。ご参加ありがとうございました。
材料開発するうえでミクロ・ナノの材料評価が益々重要になってきており,固体表面分析手法としてX線光電子分光法が広く利用されております。そこで材料技術研究協会将来検討・事業企画委員会ではこの度「材料評価のためのX線光電子分光法(XPS)の基礎と応用」というテーマで3名の先生方をお招きしてWEBセミナーを開催することと致しましたのでご案内致します。多くの方のご参加をお待ちしております。
主催:材料技術研究協会
協賛:化学工学会 材料・界面部会
色材協会
日本化学会
表面分析研究会
(順不同・随時追加予定)
日時:2021年7月9日(金)13:30~16:45(WEBは13:10からオープン)
会場:オンライン開催(Zoomを使用)
料金:材料技術研究協会正会員・法人会員 3,000円/人
協賛団体正会員・法人会員 3,000円/人
非会員 5,000円/人
学生会員 無料(本協会学生会員登録予定者,および主催・協賛団体の正会員が指導教員である学生を含む)
※事前にご質問を受け付けます。下記①の参加登録フォームにあるご質問欄に講演に関連した知りたいこと,疑問に思っていること,困っていることなどをご記入下さい。
<プログラム>
13:10~13:30 WEB受付
13:30~13:40 開会ご挨拶とご案内
13:40~14:30 20 「X線光電子分光法の原理と最近の話題」
講師:眞田則明氏(アルバック・ファイ株式会社)
14:40 20~15:30 00 「X線光電子分光分析による天然高分子化合物の解析」
講師:八田珠郎氏(千葉科学大学 危機管理学部 環境危機管理学科 教授)
15:00~15:40 質疑応答(講演1,2)および休憩
15:40~16:30 「有機薄膜の構造解析とX線照射による試料損傷」
講師:鈴木昇氏(宇都宮大学名誉教授)
16:40~ 閉会ご挨拶
※講演時間には質疑を含みます。
※※講演者の都合により,一部時間変更があります(黄字部分)。ご注意ください。