材料技術研究協会"/>「材料評価のためのX線光電子分光法（XPS）の基礎と応用」
ご好評のうちに終了しました。ご参加ありがとうございました。
材料開発するうえでミクロ・ナノの材料評価が益々重要になってきており，固体表面分析手法としてX線光電子分光法が広く利用されております。そこで材料技術研究協会将来検討・事業企画委員会ではこの度「材料評価のためのX線光電子分光法（XPS）の基礎と応用」というテーマで３名の先生方をお招きしてWEBセミナーを開催することと致しましたのでご案内致します。多くの方のご参加をお待ちしております。
主催：材料技術研究協会
協賛：化学工学会 材料・界面部会
色材協会
日本化学会
表面分析研究会
（順不同・随時追加予定）
日時：2021年7月9日（金）13:30～16:45（WEBは13:10からオープン）
会場：オンライン開催（Zoomを使用）
料金：材料技術研究協会正会員・法人会員 3,000円/人
協賛団体正会員・法人会員 3,000円/人
非会員 5,000円/人
学生会員 無料（本協会学生会員登録予定者，および主催・協賛団体の正会員が指導教員である学生を含む）
※事前にご質問を受け付けます。下記①の参加登録フォームにあるご質問欄に講演に関連した知りたいこと，疑問に思っていること，困っていることなどをご記入下さい。
＜プログラム＞
13：10～13：30 WEB受付
13：30～13：40 開会ご挨拶とご案内
13：40～14：30 20 「Ｘ線光電子分光法の原理と最近の話題」
講師：眞田則明氏（アルバック・ファイ株式会社）
14：40 20～15：30 00 「X線光電子分光分析による天然高分子化合物の解析」
講師：八田珠郎氏（千葉科学大学 危機管理学部 環境危機管理学科 教授）
15：00～15：40 質疑応答（講演１，２）および休憩
15：40～16：30 「有機薄膜の構造解析とX線照射による試料損傷」
講師：鈴木昇氏（宇都宮大学名誉教授）
16：40～ 閉会ご挨拶
※講演時間には質疑を含みます。
※※講演者の都合により，一部時間変更があります（黄字部分）。ご注意ください。